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多功能离子减薄仪
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Gentle Mill离子减薄仪/离子精修仪
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。
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离子减薄仪
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离子减薄仪
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精密离子减薄仪
仪器简介:离子减薄仪(Precision Ion Polishing System ):为整套TEM样品制备的zei后一道工序,经氩离子减薄的样品可在TEM 下直接观察。GATAN型号
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
程度的样品冰污染,损坏和相关精度的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻
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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪
适用于材料的离子束减薄过程。鞍形场离子源可获得很大的电子束透明薄区。› 程序化控制的离子入射角度变化,适用于完成特殊的样品制备目的,例如FIB样品清洁,以减少无定形非晶层。 SEM 或 LM 样品
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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪
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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪
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Leica EM RES102多功能离子减薄仪
多功能离子减薄仪EM RES102Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。Leica EM
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